JWS erfolgreich auf der Shenzhen CPSE 2025 präsentiert

Vom 28. bis 31. Oktober nahm JWS an der China Public Security Expo (CPSE) in Shenzhen teil, einer der größten und einflussreichsten Sicherheitsausstellungen in Asien. Als Unternehmen, das sich der Forschung, Entwicklung und dem Angebot fortschrittlicher Mikrodosis-Röntgen-Sicherheitsinspektionstechnologien widmet, zog JWS während der viertägigen Veranstaltung große Aufmerksamkeit auf sich.

Während der Ausstellung präsentierten wir unsere neueste Innovation — den JWS-X Vertikalen Mikrodosis-Röntgen-Sicherheitskörperscanner. Sein kompaktes Design, die leistungsstarke Detektionsfähigkeit und die extrem niedrige Strahlendosis fanden bei in- und ausländischen Besuchern großen Anklang. Viele Kunden zeigten großes Interesse an seinem hohen Durchsatz, der datenschutzfreundlichen Bildgebung und der Eignung für Flughäfen, Justizvollzugsanstalten, kritische Infrastrukturen und Hochsicherheitskontrollpunkte.

Unser Stand empfing einen stetigen Strom chinesischer und ausländischer Fachleute, darunter Sicherheitsintegratoren, Regierungsvertreter und Industriepartner. Die Besucher erkannten die Leistung, Sicherheit und Praktikabilität unserer Scantechnologie in hohem Maße an, und während der Messe wurden mehrere potenzielle Kooperationsmöglichkeiten initiiert.

Die Teilnahme an der CPSE stärkte die Position von JWS als führender Anbieter von Mikrodosis-Röntgen-Sicherheitslösungen in China weiter. Wir werden unsere Technologie weiter verbessern, globale Partnerschaften ausbauen und dem internationalen Sicherheitsmarkt sicherere und effizientere Inspektionslösungen anbieten.